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      產品展示
      • Scios 2 DualBeam超高分辨率分析系統

        Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統,可為廣泛類型的樣品,包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。

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        更新日期:2023-03-20
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      • Helios 5 LaserPFIB顯微鏡

        PFIB顯微鏡較快的材料去除率和較高的切割面質量,是毫米尺度范圍納米分辨率下較快的高質量亞表面和三維表征設備。

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        更新日期:2023-03-20
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      • Helios 5 DualBeamFIB雙束掃描電鏡

        Helios 5 DualBeam FIB雙束掃描電鏡經過精心設計,可滿足材料科學研究人員和工程師對廣泛的 FIB-SEM 使用需求,即使是具挑戰性的樣品。

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        更新日期:2023-03-20
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      • Scios 2 DualBeamFIB顯微鏡

        FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統,可為的廣泛類型的樣品,包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。

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        更新日期:2023-03-20
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      • Scios 2 DualBeamFIB雙束掃描電鏡

        Scios 2 DualBeam FIB雙束掃描電鏡系統創新性的功能設計,優化了樣品處理能力、分析精度和易用性,是滿足科學家和工程師在學術和工業環境中進行高級研究和分析的理想解決方案。

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        更新日期:2023-03-20
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      • Talos F200i S/TEM透射電鏡

        Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 透射電鏡是賽默飛用于高分辨率成像和分析應用的場發射掃描/透射電子顯微鏡,其電壓范圍為20到200 kV,是專為滿足各種材料科學樣品和樣品的性能和效率而設計的。

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